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采用超曲面漫射器的复杂光场计算成像解决传统散射介质成像缺陷

2018年08月28日 行业资讯 1333 views

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“利用散射介质将隐藏信息转移到散斑图案中的各种基于散斑的计算成像”的技术已经被实验证明,但是他与传统的散射介质成像有着相同的缺陷,比如:有限的记忆效应范围、耗时、随时间而增长的不稳定性等。

近期,来自美国加州理工学院的Andrei Faraon及其团队展示了通过使用具有已知散射特性的随机介电超曲面漫射器(MD),解决了这些问题。研究人员探索了超曲面漫射器传输矩阵的数学性质,如其相关性和奇异值谱,以扩展对超曲面漫射器和散斑相关散射矩阵方法的理解。除了具有较大的噪声容限,可靠的重现性和抗错位的稳健性之外,使用超曲面漫射器还可以通过简单的仿真过程替代传统散射介质的费力实验表征程序。此外,具有相同散射特性的电介质超曲面漫射器可以容易地大规模生产,从而实现真实世界的应用,证明了一种能够使用超曲面漫射器和散斑相关散射矩阵方法检索复场值的成像系统。这项工作展示了超曲面光学和基于散斑的计算成像之间的桥梁,为基于散斑的计算成像方法的各种应用扩展了潜力,如生物医学成像、全息和光学加密。

这项研究工作在超曲面光学和基于散斑的计算成像之间建立起了桥梁,为生物医学成像、全息成像和光学加密等多种应用充分利用基于散斑的计算成像方法的潜力铺平了道路。

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